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APD-QE 采用了光束空間強度技術(shù)，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種優(yōu)良探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種優(yōu)良光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測器等。
傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應(yīng)測試與光電傳感器特性分析。
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